Archive for Март 10th, 2012

Характер кривых изменения

Характер кривых изменения Нх
и Нг изображен на рис. 243. Там же показаны суммарные магнитные поля (а, а’), равные сумме первичного маг­нитного поля источника (б, б’) и вторичного поля возмущающего объекта (в, в’).

Переменное магнитное поле измеряют при помощи многовитковых ра­мок, э. д. с. в которых пропорциональна напряженности магнитного поля. Измерения э. д. с. производят с помощью ламповых микровольтметров и амплитудно-фазовых приборов — афиметров типа АФИ-4. Ламповый микровольтметр позволяет непосредственно измерить э. д. с. в приемной
рамке. При помощи афиметра измеряют отношение амплитуд и разность фа» двух переменных напряжений, одно из которых снимают с выхода приемной рамки, а второе или с выхода второй приемной рамки, или с шунта, включен­ного в цепь источника переменного тока.

‘ В СССР применяют следующие модификации (методы) наземной низко­частотной индуктивной электроразведки: 1) незаземленной петли (НП);

2)       длинного кабеля (ДК); 3) дипольное индуктивное профилирование (ДИП). Все эти методы используют для поисков и разведки хорошо (далее…)